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成都迈恩探索科技有限公司

Maptek I-siteXR3三维激光扫描仪

I-siteXR3三维激光扫描仪一机多用，超长距离，精准。Maptek I-site XR3是   新一款三维激光测量系统，其内置了高速、高精度激光器，高分辩率数码相机，测量型望远镜，结合其强大的后软件，在保障测量安全的前提下，大大提高了工作效率。

    Maptek I-siteXR3相对于早期的8000系列，其速度提了150%，体积减小了30%，重量减轻了25%，IP65的高防护等级保障了设备在恶劣环境下的正常使用。新系统改进了内置数码相机，提高了像素，为岩土工程分析提供了更精准的参考。
       新一代的Maptek I-siteXR3三维激光扫描仪，可用于提高矿山数字化水平，可服务于矿山测绘工程师，岩土工程师，地质工程师，采矿工程师等。结合专业的软件，可为传统测量、城市测量、建筑测量和基础设施测量提供基础数据.
    软硬件的完美配合简化了工作流程。该系统现场安装方便，可提高外业效率。岩土工程师和地质工程师可花较少的外业时间采集现场数据，为地质填图和岩土分析提供基础数据。
     Maptek I-site XR3三维激光扫描仪有多种安装模式，可安装在三脚架上，可安装在车上进行车载测量。该系统还可以用于边坡稳定性监测。模块化的设计可依所用户需求选择相应的配置。

基本功能
距离精度5mm
重复精度4mm
IP65的防护等级
自动数据拼接
人体工程学设计
一体化设计
灵活的系统配置
ISO9022质量认证
为什么选择XR3
设计可靠：一体化设计，提高了对恶劣环境的适应。人体工程学设计，便于安装
操作简洁：多种安装模式，可适应于不同环境
外业效率高：多种拼接模式，可提高数据精度可通过USB快速传递数据
可应用于岩土工程分析
可实现连续车载，应用于边坡稳定性分析，可应用于施工质量验收，提供全面的技术支持和国示质保。
应用领域：
大型或中型露天矿山、地形测量、料堆体积测量、变形监测和岩体稳定性分析、施式质量验收、质量分析、地质填图、岩土工程分析、侵蚀变形研究
基本参数：
尺寸            390mm x 192mm x 318mm
重量            9.4kg
电池            内置锂电池，续航时间4小时
自动调平精度    20
工作温度        -40℃+50℃
存储温度        -40℃+70℃
内置罗盘精度    ±1o
内置GPS精度    L1
质量认证        ISO  9022
防护等级        IP65(IEC 60529)
数据传输        有线或无线

扫描仪参数
大测距        2400mm
小测距        2.5mm
距离精度        5mm
重量精度        ±4mm
激光发散角      0.25mrad
数据采集速率    50KHz,100KHz,200KHz
激光等级        1级安全激光
波长            1545nm（近红外）
角度步距        0.2o至0.0125o
视场角          水平：360o   垂直：100o

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