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BW-4022C半导体光耦晶振压敏电阻综合测试系统

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行业分类：仪器仪表/电子测量仪器

产品类别：

品　　牌：博微

规格型号：BW-4022C

库　　存：10

生 产 商：陕西博微电通科技有限责任公司

产　　地：中国陕西省西安市

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 BW-4022C

 半导体综合测试系统


BW-4022C半导体综合测试系统可同时针对：

【光耦】

Input:Vf/It/Ct；Output:Iceo/BVceoBVeco;TransferCharacteristics:If/CTR&;Vice(sat)/Riso/Cf/Fc/Tr/Tf.

适用于〖三极管管型光耦/可控硅光耦/继电器光耦〗进行测试。

【二极管】

--Kelvin /Type_ident /Pin_test /Vrrm/Irrm/V/△Vf/V_Vrrm/I_Irrm/△Vrrm；

〖Diode /稳压Diode/ZD/SBC/TVS/整流桥堆〗进行测试。

【压敏电阻】

〖Kelvin /Vrrm /Vdrm /Irrm /Idrm /△Vr〗进行测试。

【锂亚电池】;

〖Kelvin/电池空载电压（Vbt）/负载电压(Vbt_load )&; /测试电流（0-10A 恒流 ）/负载电压变化值（▲Vbt_load）/电池内阻(Vbt Res)&; 等进行测试。

【晶振】

〖震荡频率(Freq_osc )/谐振电阻（Ri）/频率精度(Freq_ppm)/测试频率范围（10kHz~10MHz）等测试。

【其他测试功能可定制拓展】

BW-4022C半导体综合测试系统是针对于半导体器件开发专用测试的系统，经我公司产品升级与开发，目前亦可以对二极管、光电耦合器、压敏电阻、锂亚电池、晶振5种器件进行参数测试，性能、精度、测试范围均满足客户测试需求，可用于客户端来料检验、研发分析、 产品选型等重要检测设备之一。

BW-4022C 半导体综合测试系统采用大规模 32 位 ARM;MCU 设计， PC 中文操作界面，程控软件基于 Lab VIEW 平台， 填充调用式菜单操作界面，测试界面简洁 灵活、人机界面友好。配合开尔文综合集成测试插座，根据不同器件更换测试座配合，系统可适配设置完成对二极管、光电耦合器、压敏电阻、锂亚电池、晶振5种元件的静态参数测试。

该测试系统主要由测试主机和程控电脑及外部测试夹具三部分组成，并接受客户端MES系统进行测试指令：方案选取/开始/暂停/停止/数据上传等操作执行，并可将测试数据上传至MES系统由客户端处理。

一、设备规格与环境要求

物理规格

主机尺寸：深;660*宽 430*高 210(mm) 台式

主机重量：＜25kg

产品色系：白色系

工况环境

主机功耗：＜300W

海拔高度：海拔不超过1500m；

环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；

相对湿度：;20%RH～75%RH (无凝露，湿球温度计温度 45℃以下)；

大气压力：86Kpa～106Kpa；

防护条件：无较大灰尘，腐蚀性气体，导电粉尘等；

供电要求

电源配置：AC220V±10%、50Hz±1Hz；

工作时间：连续；

二、测试种类与技术指标

1、光耦测试：

输入（Input）相关参数

·正向电压（Forward Voltage）：

反向电流（Reverse Current）：

输出（Output）相关参数

集电极暗电流（Collector Dark Current）：

集电极- 发射极击穿电压（Collector-Emitter Breakdown Voltage）：

·发射极;- 集电极击穿电压（Emitter-Collector Breakdown Voltage）：

集电极电流（Collector Current）：

·电流传输比（Current Transfer Ratio）：


传输特性（TRANSFER CHARACTERISTICS）相关参数

集电极- 发射极饱和电压（Collector-Emitter Saturation Voltage）：

;隔离电阻（Isolation Resistance）：


（以上参数基于晶体管LTV-816-Cu series特性参数）

三极管管型光耦

测试参数

符号

量程

测试范围

测试条件

测量精度

输入正向导通压降

Vf1

0-10V

+-10V

0-4A

1%+FullRange0.1%+-2mV

反向击穿电压（耐压）

Bvceo1 Bveco1

1

+-1V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-1mV

2

+-10V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2mV

3

+-100V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-20mV

4

+-1000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-200mV

5

+-2000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2V

反向漏电流

Iceo1 Ir1

1

+-100nA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-7nA

2

+-1uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA

3

+-10uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA

4

+-100uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30nA

5

+-1mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-300nA

6

+-10mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-3uA

7

+-100mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30uA

输出导通压降

Vce(sat)1

0-10V

+-10V


1%+FullRange0.1%+-2mV

输入输出电流传输比


2

600


1%+FullRange0.5%+-5

3

6000


1%+FullRange0.5%+-10

4

60000


1%+FullRange0.5%+-20







可控硅光耦

测试参数

符号

量程

测试范围

测试条件

测量精度

输入正向导通压降

Vf1

0-10V

+-10V

0-4A

1%+FullRange0.1%+-2mV

反向击穿电压（耐压）

输入触发电流

Vdrm  vrrm

ift

1

+-1V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-1mV

2

+-10V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2mV

3

+-100V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-20mV

4

+-1000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-200mV

5

+-2000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2V

反向漏电流

irrm idrm ir1

1

+-100nA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-7nA

2

+-1uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA

3

+-10uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA

4

+-100uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30nA

5

+-1mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-300nA

6

+-10mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-3uA

7

+-100mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30uA






1%+FullRange0.1%+-2mV

输入LED正向压降

输出导通压降

Vf1

vtm

0-10V

+-10V


1%+FullRange0.5%+-5

0-10V

+-10V


1%+FullRange0.5%+-10

0-400ma



1%+FullRange0.5%+-20


vih






ih






IL






C_vtm





·继电器光耦

测试参数

符号

量程

测试范围

测试条件

测量精度

输入正向导通压降

Vf1

0-10V

+-10V

0-4A

1%+FullRange0.1%+-2mV

反向击穿电压（耐压）

VL1

VL2

1

+-1V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-1mV

2

+-10V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2mV

3

+-100V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-20mV

4

+-1000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-200mV

5

+-2000V

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-2V

反向漏电流

Ir1

Ir2

1

+-100nA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-7nA

2

+-1uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA

3

+-10uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA

4

+-100uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30nA

5

+-1mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-300nA

6

+-10mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-3uA

7

+-100mA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-30uA

输出导通内阻

ROn1

ROn2

0-10V

+-10V

0-40A

1%+FullRange0.1%+-2mV

输入输出电流传输比


2

600


1%+FullRange0.5%+-5

3

6000


1%+FullRange0.5%+-10

4

60000


1%+FullRange0.5%+-20







2、二极管类测试

· 二极管类：二极管

· Diode

· Kelvin ，Vrrm ，Irrm ，Vf ，△Vf ，△Vrrm ，Tr（选配）；

二极管类：稳压二极管

· ZD（Zener Diode）

· Kelvin ，Vz ，lr ，Vf ，△Vf ，△Vz ；

二极管类：稳压二极管

· ZD（Zener Diode）

· Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz；

二极管类：三端肖特基二极管 SBD（SchottkyBarrierDiode）

· Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm；

二极管类： 瞬态二极管

· TVS

· Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm  ；

二极管类：整流桥堆

· Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm；

二极管类：三相整流桥堆

· Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm；

测试参数

符号

量程

测试范围

测试条件

测量精度

正向导通压降

VF1 VF2 VF3 VF4 VF5  VF6

0-10V

+-10V

0-40A（选配）

0-100A(标配)

0-200A（选配）

0-300A（选配）

0.5%+FullRange0.1%+-2mV

反向击穿电压（耐压）

Vrrm1 Vrrrm2 Vrrrm3 Vrrm4 Vrrm5  Vrrm6

1

+-1V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-1mV

2

+-10V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-2mV

3

+-100V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-20mV

4

+-1000V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-200mV

5

+-2000V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-2V

反向漏电流

Irrm1 Irrm2 Irrm3 Irrm4 Irrm5  Irrm6

1

+-100nA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-5nA

2

+-1uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA

3

+-10uA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-10nA

4

+-100uA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-30nA

5

+-1mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-300nA

6

+-10mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-3uA

7

+-100mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-30uA

3、压敏电阻测试

· Kelvin 、Vrrm 、 Vdrm 、Irrm 、Idrm  、 △Vr ;（参数配置精度与二极管一致）

测试参数

符号

量程

测试范围

测试条件

测量精度

正向导通压降

VF1 VF2 VF3 VF4 VF5  VF6

0-10V

+-10V

0-40A（选配）

0-100A(标配)

0-200A（选配）

0-300A（选配）

0.5%+FullRange0.1%+-2mV

压敏电压（1mA）

Vrrm1 Vrrrm2 Vrrrm3 Vrrm4 Vrrm5  Vrrm6

1

+-1V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-1mV

2

+-10V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-2mV

3

+-100V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-20mV

4

+-1000V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-200mV

5

+-2000V

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-2V

反向漏电流

Irrm1 Irrm2 Irrm3 Irrm4 Irrm5  Irrm6

1

+-100nA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-5nA

2

+-1uA

0-2000V

1%+FullRange0.1%+-10nA

3

+-10uA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-10nA

4

+-100uA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-30nA

5

+-1mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-300nA

6

+-10mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-3uA

7

+-100mA

0-2000V

0.5%+FullRange0.1%+-30uA

4、锂亚电池测试

· Kelvin(0~150mV)

· 电池空载电压（Vbt）  0-100V  +-0.2%

· 负载电压(Vbt_load )   0-100V  +-0.5%  测试电流（0-10A 恒流 ）

· 负载电压变化值（▲Vbt_load）0-10v +-5% 测试电流（0-10A 恒流 ）

· 电池内阻(Vbt Res)  0-10v +-5%  测试电流（0-10A 脉冲 ）

5、晶振测试

· 震荡频率(Freq_osc )

· 谐振电阻（Ri）

· 频率精度(Freq_ppm)

· 测试频率范围（10kHz~10MHz）

测试参数

符号

量程

测试范围

测试条件

测量精度

震荡频率

Fosc 

10kHz~100kHz

100kHz~1MHz

1MHz~5MHz

5MHz~10MHz

10kHz~10MHz


0.1Hz

谐振电阻

Rz

0~100K



±10%

频率精度

ppm


0-1000


0.01%

三、参数配置与性能指标

1. 电流/电压源 VIS自带VI测量单元

1）加压（FV）

量程

分辨率

精度

±40V 

19.5mV

± 1%设定值+FullRange0.1%± 19.5mV

±20V

10mV

±1% 设定值+FullRange0.1%±10mV

±10V

5mV

±1% 设定值+FullRange0.1%±5mV

±5V

2mV

±1% 设定值+FullRange0.1%±2mV

±2V

1mV

±1% 设定值+FullRange0.1%±2mV

2)加流(FI)：

量程

分辨率

精度

±100A

195mA

±2% 设定值+FullRange0.1%±100mA

±40A

19.5mA

±2% 设定值+FullRange0.1%±30mA

±4A

1.95mA

±1% 设定值+FullRange0.1%±2mA

±400mA

119.5uA

±1% 设定值+FullRange0.1%±200uA

±40mA

11.95uA

±1% 设定值+FullRange0.1%±20uA

±4mA

195nA

±1% 设定值+FullRange0.1%±200nA

±400uA

19.5nA

±1% 设定值+FullRange0.1%±20nA

±40uA

1.95nA

±2% 设定值+FullRange0.1%±2nA

说明：电流大于1.5A自动转为脉冲方式输出，脉宽范围：300us-1000us可调

3). 电流测量(MI)

量程

分辨率

精度

±100A

12.2mA

±5% 读数值+FullRange0.2%±100mA

±40A

1.22mA

±1% 读数值+FullRange0.1%±20mA

±4A

122uA

±0.5% 读数值+FullRange0.1%±2mA

±400mA

12.2uA

±0.5% 读数值+FullRange0.1%±200uA

±40mA

1.22uA

±0.5% 读数值+FullRange0.1%±20uA

±4mA

122nA

±0.5% 读数值+FullRange0.1%±2uA

±400uA

12.2nA

±0.5% 读数值+FullRange0.1%±200nA

±40uA

1.22nA

±1% 读数值+FullRange0.1%±20nA

4). 电压测量(MV)

量程

分辨率

精度

±40V

1.22mV

±1% 读数值+FullRange0.1%±20mV

±20V

122uV

±0.5% 读数值+FullRange0.1%±2mV

±10V

12.2uV

±0.5% 读数值+FullRange0.1%±200uV

±5V

1.22uV

±0.5% 读数值+FullRange0.1%±20uV

2. 数据采集部分 VM  （16位ADC，100K/S采样速率）

1). 电压测量(MV)

量程

分辨率

精度

±2000V

1.22mV

±1% 读数值+FullRange0.1%±20mV

±100V

122uV

±0.5% 读数值+FullRange0.1%±2mV

±10V

12.2uV

±0.5% 读数值+FullRange0.1%±200uV

±1V

1.22uV

±0.5% 读数值+FullRange0.1%±20uV

2). 漏电流测量(MI)

量程

分辨率

精度

±100mA

30uA

±1% 读数值+FullRange0.1%±30uA

±10mA

3uA

±1%   读数值+FullRange0.1%±3uA

±1mA

300nA

±1% 读数值+FullRange0.1%±300nA

±100uA

30nA

±1% 读数值+FullRange0.1%±30nA

±10uA

3nA

±1% 读数值+FullRange0.1%±10nA

±1uA

300pA

±1% 读数值+FullRange0.1%±10nA

±100nA

30pA

±1% 读数值+FullRange0.1%±5nA

3. 高压源  HVS(基本)16位DAC

1).加压(FV)

量程

分辨率

精度

2000V/10mA

30.5mV

±0.5% 设定值+FullRange0.1%±500mV

200V/10mA

30.5mV

±0.5% 设定值+FullRange0.1%±500mV

40V/50mA

30.5mV

±0.5% 设定值+FullRange0.1%±500mV




2).加流(FI)：

量程

分辨率

精度

10mA

4.88uA

±2% 设定值+FullRange0.1%±10uA

2mA

488nA

±1% 设定值+FullRange0.1%±2uA

200uA

48.8nA

±1% 设定值+FullRange0.1%±200nA

20uA

4.88nA

±1% 设定值+FullRange0.1%±20nA

2uA

488pA

±2% 设定值+FullRange0.1%±10nA 


详情：

规格参数

  • 行业分类：

    仪器仪表/电子测量仪器

  • 产品类别：

  • 品　　牌：

    博微

  • 规格型号：

    BW-4022C

  • 库　　存：

    10

  • 生 产 商：

    陕西博微电通科技有限责任公司

  • 产　　地：

    中国陕西省西安市

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