BW-4022A

半导体分立器件静态测试系统

品牌：博微电通

名称：半导体直流参数测试系统/分立器件测试仪/半导体静态测试机

型号：BW-4022A

用途：针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进行较好测试

BW-4022A产品介绍：BW-4022A 晶体管直流参数测试机是新一代针对半导体器件测试系统，经过我公司多次升级与产品迭代，目前测试性能、精度、测试范围及产品稳定度得到大幅提升，成为半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、研发分析、产品选型等重要检测设备之一。

BW-4022A 晶体管直流参数测试机大规模 32 位 ARMMCU 设计， PC 中文操作界面，高压源 2500V：选配1.4KV-- 2KV，高流源500A ：选配 40A、100A、200A、300A及以上。程控软件基于 Lab VIEW 平台， 填充调用式菜单操作界面，测试界面简洁灵活、人机界面友好。配合开尔文综合集成测试插座，只需要根据不同器件更换测试座配合系统自适应测试设置可完成大多数电子元件的静态参数参数， 系统内部配置因线路、接触性、及EMC引起的干扰进行自动补偿，确保测试结果准确度；针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进行准确测试。

产品电气参数：

产品信息

产品型号：BW-4022A

产品名称：半导体直流参数测试机

物理规格

主机尺寸：深660*宽 430*高 210(mm)

主机重量：＜28kg

电气环境

主机功耗：＜300W

海拔高度：海拔不超过4000m

环境要求：-20℃ ~ 60℃（储存）、5℃ ~ 50℃（工作）

相对湿度：20%RH～75%RH (无凝露 ，湿球温度计温度 45℃以下)

大气压力：86Kpa ～106Kpa

防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆开性气体，导电粉尘等

电网要求：AC220V、 ±10%、50Hz±1Hz

工作时间：连续

服务领域：

产品特点：

♦♦ 客户端PC、工控机均可程控测试机进行测试

♦♦ 菜单调用式测试程序亦可编辑软件操作简便、人机界面友好

♦♦ 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数测试

♦♦ 系统基于 Lab VIEW 平台开发

♦♦ 自动识别器件极性、 NPN/PNP

♦♦ 16 位 ADC，1M/S 采样速率

♦♦ 高压源 2500V：选配1.4KV-- 2KV

♦♦ 高流源500A ：选配 40A、100A、200A、300A及以上

♦♦ 驱动电压 10mV~40V

♦♦ 控制极电流 10uA~100mA

♦♦ 四线开尔文连接确保连接可靠性

♦♦ RS232 串口通信

♦♦ Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）

♦♦ 提供丰富的测试适配器

♦♦ 切换板采用高速水银继电器，测试效率与可靠性大大提高

♦♦ 可与分选机、探针台、编带机等联机测试