产品与服务

使用NanoScan狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪

扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术，通过狭缝 / 小孔取样激光光束的一部分，将取样部分通过单点光电探测器测量强度，再通过扫描狭缝 / 小孔的位置，复原整个光斑的分布。

扫描式光束分析仪的优点 :

取样尺度可以到微米量级，远小于 CCD 像素，可获得较高的空间分辨率而无需放大；

采用单点探测器，适应紫外 ~ 中远红外宽范围波段；

单点探测器具备很高的动态范围，一个探头可同时适应弱光和强光分析。

扫描式光束分析仪的缺点 : 

多次扫描重构光束分布，不适合输出不稳定的激光；

不适合非典型分布的激光，近场光斑有热斑、有条纹等的状况。

扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系；在很多应用，如小光斑测量（焦点测量）、红外高分辨率光束分析等方面，扫描式光束分析仪具备du特的优势。

特点和功能

可测量连续激光以及大于 1kHz 重频的脉冲激光·取样间隔可以调节小到 5.7nm，使其能够极其精确地测量非常小的光斑，

可显示 2D/3D 光斑形貌

扫描速度可调谐

16 位数字化信号采集，35dB 高动态范围，20Hz最刷新频率·支持用户进行二次开发，便于集成

探头可添加功率计选项

硅、锗和热释电探测器可选，测量范围可覆盖很宽的光谱范围和功率级别

不加衰减就可以测量较高功率或焦点处光斑·所有的 NanoScan 的校准都可以朔源 NIST 标准以确保最终的精度·符合国际标准ISO/DIN11146及IS013694。(1989~1996 年Photon 公司主持了 ISO/DIN 的工作，制订出了ISO/DIN11146 标准)

NanoScan™激光光束轮廓分析仪为您提供前所未有的光束测量体验。狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪的优点在于测量光束位置和大小时可获得亚微米精度及NIST可追踪精度。扫描头配置包括硅、锗或热释电版本，可用于广泛的波长和激光功率级范围。NanoScan软件可提供两种版本：标准版和专业版，并且包括广泛的ISO定量测量和M2向导，并能测量激光功率。

NanoScan 2s Si/3.5/1.8  7µm至~2.3mm

NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器，精确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行全面分析。

光束尺寸7µm至~2.3mm

功率级范围为~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan标准或专业软件