产品与服务

2600A系列特点
263单通道系统数字源表，2636A双通道系统数字源表
执行并行测试，获得无以伦比的吞吐量
20,000读数/秒提供更快的测试时间和能力，捕捉器件瞬态性能
系列产品提供宽动态范围：1fA～10A和1µV～200V
TSP-Link总线支持每GPIB或IP地址多达32单元/64通道的通道扩展
测试脚本处理器(TSP)以*的系统自动化在仪器中执行完整的测试程序(脚本)
USB端口用于保存数据和测试脚本
LXI Class C兼容性提供高速数据传输并且实现快捷地远程测试、监控和排错

263和2636A主要指标
电压测量
量程 显示分辨率 输入阻抗 准确度(1年)
23℃±5℃
200.000mV 1µV >1014Ω ±(0.015%+225µV)
2.00000V 10µV >1014Ω ±(0.02%+350µV)
20.0000V 100µV >1014Ω ±(0.015%+5mV)
200.000V 1mV >1014Ω ±(0.015%+50mV)
电流测量
量程 显示分辨率 输入端压降 准确度(1年)
23℃±5℃
100.00pA 1fA <1mV ±(0.15%+120fA)
1.00000nA 10fA <1mV ±(0.15%+240fA)
10.0000nA 100fA <1mV ±(0.15%+3pA)
100.000nA 1pA <1mV ±(0.06%+40pA)
1.00000µA 10pA <1mV ±(0.025%+400pA)
10.0000µA 100pA <1mV ±(0.025%+1.5nA)
100.000µA 1nA <1mV ±(0.02%+25nA)
1.00000mA 10nA <1mV ±(0.02%+200nA)
10.0000mA 100nA <1mV ±(0.02%+2.5µA)
100.000mA 1µA <1mV ±(0.02%+20µA)
1.00000A 10µA <1mV ±(0.03%+1.5mA)
1.50000A 10µA <1mV ±(0.05%+3.5mA)
10.0000A 100µA <1mV ±(0.4%+25mA)
典型应用 I-V功能测试和特性分析，
晶圆级可靠性测试，
测试集成电路如RFIC、ASIC、SOC，
测试光电器件如LED、VCSEL和显示器，
测试纳米材料和器件。