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无损探伤机微焦X射线无损检测设备

X-RAY无损检测仪,主要用于:半导体元器件、BGA、CPU、PCBA、IC芯片、电子元器件、封装元器、集成电路、电容、

热敏电阻、手机电路、电池、电路板、电子产品内部结构是否变形、空焊、脱焊、断裂、移位、等非破坏性检测;

同时还可用于: 发热管、发热丝内部结构检测、铸件、压模铸件、注塑件、气孔、气泡等检测。

技术参数:

1、数字成像视场: 130X160mm(不同面积可订制)       

2、像素间距:125um;(高分辨率成像系统)         

3、间距:200-600mm;        

4、A/D转换;16/bits           

5、空间分辨率;10.LP/mm(高分辨率)

6、管电压:40-80kv;(微焦射线机)         

7、管靶流:0.2-0.5mA;

8、电脑系统:windows10;

9、远程控制: 远程操作软件;

10、有线传输端口:千兆网口;

11、主机重量:210kg;           

12、适配器输出电压:DC24V。

13、交流电源频率:50-60hz;


详情:

规格参数

  • 行业分类:

    仪器仪表/分析仪器/色谱仪

  • 产品类别:

  • 品  牌:

    安竹

  • 规格型号:

    XDX-DF160 350

  • 库  存:

    1000

  • 生 产 商:

    上海安竹光电科技有限公司

  • 产  地:

    中国上海市嘉定区

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